Artikkelit jotka sisältää sanan 'mittausvirheet'

Aiemmissa tutkimuksissa relaskooppia käyttäen mitattujen pohjapinta-alojen ja tilavuuksien on havaittu olevan lieviä aliarvioita, etenkin kuusikoissa. Harhassa on havaittu myös selkeä trendi: vähäpuustoisilla kuvioilla arviot ovat yliarvioita, ja suuripuustoisilla kuvioilla taas aliarvioita. Havaittujen aliarvioiden syyksi on arveltu mm. heikosta näkyvyydestä aiheutuvaa mittausvirhettä, suunnittelijoiden varovaisuutta sekä valittujen havaintopisteiden epäedustavuutta. Aiemmissa tutkimuksissa on havaittu myös pohjapinta-alan arvioiden kasvavan systemaattisesti relaskooppikertoimen kasvaessa. Tässä tutkimuksessa pyrittiin selvittämään mitkä ovat ilmiön syyt. Hyytiälän metsäasemalla järjestetyssä kokeessa 24 suunnittelun ammattilaista mittasi kukin 9 kuviota, joiden joukkoon valittiin erityisen suuripuustoisia kohteita. Kullekin kuviolle tehtiin systemaattinen koealaotanta, josta laskettiin kuvion puustotiedot. Kokeessa suunnittelijat merkitsivät maastoon mittaamiensa relaskooppikoealojen paikat, ja kirjasivat mittaustulokset. Näiden havaintojen keskiarvona saatiin kullekin kuviolle toinen puustoarvio. Kolmantena arviona oli suunnittelijan harkintaa edustava kuvion keskimääräinen arvio. Lisäksi kaikista merkityistä ja löydetyistä mittauspisteistä tehtiin tarkistusmittaus, josta saatiin kuvioille neljäs puustoarvio. Näiden mittausten perusteella virhe jaettiin kolmeen komponenttiin: mittausvirhe, harkinnanvaraisesta arviosta johtuva virhe sekä jäännösvirhe, joka sisältää koealojen sijoittelusta johtuvat sekä muut mahdolliset virheet. Tuloksissa havaittiin sama harhan trendi kuin aiemmissakin tutkimuksissa. Ylivoimaisesti suurin virheen komponentti tässä tutkimuksessa oli mittausvirhe. Suuripuustoisilla kuvioilla, mitattaessa puita pienillä relaskooppikertoimilla, näyttää osa puista jäävän havaitsematta. Näissä metsissä kannattaisikin käyttää 2 tai jopa 4 m²/ha relaskooppikerrointa.

• Saari, Sähköposti: annika.kangas@helsinki.fi
• Kangas, Sähköposti: ei.tietoa@metsatiede.org